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荷兰实用地图集合中提取的手写数字(`0'--`9')的特征数据集

荷兰实用地图集合中提取的手写数字(`0'--`9')的特征数据集

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Computer Classification

Data Set Information:该数据集包含从荷兰实用地图集合中提取的手写数字(`0'--`9')的特征。每类200个图案(总共2000个......

数据结构 ? 4.93M

    Data Structure ?

    * 以上分析是由系统提取分析形成的结果,具体实际数据为准。

    README.md

    Data Set Information:

    该数据集包含从荷兰实用地图集合中提取的手写数字(`0'--`9')的特征。每类200个图案(总共2000个图案)已在二进制图像中数字化。这些数字表示为以下六个要素集(文件):

    1.mfeat fou:76字符形状的傅里叶系数;

    2.mfeat fac:216个剖面相关性;

    3.mfeat-kar:64个Karhunen爱情系数;

    4.mfeat pix:2 x 3窗口中的240像素平均值;

    5.mfeat zer:47个Zernike时刻;

    6.mfeat mor:6个形态特征。

    在每个文件中,2000个模式以2000行存储在ASCI中。前200个模式属于“0”类,然后是“1”-“9”类中每个类的200个模式集。不同特征集(文件)中的对应模式对应于相同的原始字符。

    源图像数据集丢失。使用像素数据集(mfeat pix),可以获得原始图像的采样版本(15 x 16像素)。


    Attribute Information:

    6个文件:

    1.mfeat fou:76字符形状的傅里叶系数;

    2.mfeat fac:216个剖面相关性;

    3.mfeat-kar:64个Karhunen爱情系数;

    4.mfeat pix:2 x 3窗口中的240像素平均值;

    5.mfeat zer:47个Zernike时刻;

    6.mfeat mor:6个形态特征。


    Relevant Papers:

    M. van Breukelen, R.P.W. Duin, D.M.J. Tax, and J.E. den Hartog, Handwritten digit recognition by combined classifiers, Kybernetika, vol. 34, no. 4, 1998, 381-386.
    [Web link]

    M. van Breukelen and R.P.W. Duin, Neural Network Initialization by Combined Classifiers, in: A.K. Jain, S. Venkatesh, B.C. Lovell (eds.), ICPR'98, Proc. 14th Int. Conference on Pattern Recognition (Brisbane, Aug. 16-20),

    A.K. Jain, R.P.W. Duin, J. Mao, Statisitcal Pattern Recognition: A Review, in preparation


    Papers That Cite This Data Set1:


    Xiaoli Z. Fern and Carla Brodley. Cluster Ensembles for High Dimensional Clustering: An Empirical Study. Journal of Machine Learning Research n, a. 2004.  [View Context].

    Jaakko Peltonen and Samuel Kaski. Discriminative Components of Data. IEEE. 2004.  [View Context].

    Xiaofeng He and Partha Niyogi. Locality Preserving Projections. NIPS. 2003.  [View Context].

    Simon Perkins and James Theiler. online Feature Selection using Grafting. ICML. 2003.  [View Context].

    Pavel Paclik and Robert P W Duin and Geert M. P. van Kempen and Reinhard Kohlus. On Feature Selection with Measurement Cost and Grouped Features. Pattern Recognition Group, Delft University of Technology.  [View Context].


    Citation Request:

    Please refer to the Machine Learning Repository's citation policy


    Robert P.W. Duin
    Department of Applied Physics
    Delft University of Technology
    P.O. Box 5046, 2600 GA Delft
    The Netherlands

    email: duin '@' ph.tn.tudelft.nl
    http : //www.ph.tn.tudelft.nl/~duin
    tel +31 15 2786143




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    帕依提提提温馨提示

    该数据集正在整理中,为您准备了其他渠道,请您使用

    注:部分数据正在处理中,未能直接提供下载,还请大家理解和支持。
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